BMH-J3数显薄膜测厚仪
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手 机:13572881817
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产品属性
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BMH-J3数显薄膜测厚仪
一、产品简介
BMH-J3数显薄膜测厚仪:本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 尤其适用于薄膜 ,是实验室常用的检测工具。
二、主要技术参数
1、测量范围:(0-25)mm
2、分 辨 率:0.001mm
3、测厚仪工作温度: 0℃~+40℃
4、储运温度:-20℃~+70℃
5、环境相对湿度: ≤80%
价格(元):1300.00