产品型号：

F50

测量范围：

10nm-450um

F50透明/半透明膜厚测试仪

主要用于测试各种透明半透明的膜厚

品简介：
1  F50 配备全自动R-θ和 X-Y工作台，有 200mm和300mm两种型号可供选择，客户也可提供所需尺寸。测量速率高达2点/秒，通过快速扫描功能，可取得整片样品的厚度分布情况以及光学参数（n 、k），有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm) ；
2  测量的薄膜厚度范围从10nm到450um，为 0.1nm 。
 
主要特点：

1  操作简单、使用方便；
2  测量快速、准确；
3  体积小、重量轻；
4  价格便宜。
 
应用领域:

1  半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物；
2  LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
3  光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片；