X荧光分析仪主要技术指标：
 

1.能量色散X射线荧光分析法
2.分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高型）
           Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
3.检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
4.样品形状460×380mm(高150mm)
5.样品：粉末  固体  液体
6.靶材Rh  X射线管管电压≦50KV 管电流≦1mA   X射线照射径1/3/5mm
7.防护＜0.1mR/Hr(辐射低于电脑屏幕）
8.进口电制冷UHRD探测器。
9.X荧光分析仪内置高清摄像头
10.定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
11.软件照射径：1/3/5mm
12.X荧光分析仪采用定量分析：基础参数法/标准法/1点校正