MAC65痕迹自动采集比对系统
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产品品牌:
TeKin
产品型号:
MAC65
类型:
其它

1、光学系统:进口平行光路显微放大光学系统
2、总放大倍数: 6.5×~90×
3、物镜:0.65×~4.5×连续变倍,变倍比71
4、目镜:WF10×/ф23,视角45°
5、前端镜:2×
6、工作距离:103mm
7、调焦方式:电动控制升降,手动对焦
8、载物台:旋转载物台、指纹展平工作台、弹头弹壳展平工作台
9、旋转马达:超精密进口电磁感应马达,360°旋转误差<0.002°
10、照明方式:12V/100W冷光源灯箱,双束光纤冷光源照明; 2mm×30mm线型冷光源照明,05°照射
11、夹具:无二次划痕弹性夹具及非接触式数字化采集痕迹图像,弹头检验无损伤
12、展平显示:弹头、弹壳表面痕迹360°图像自动展平显示,计算机自动控制校正,不变形,零误差
13、图像观察采集:300万像素彩色数码CCD
14、软件功能:1)、展平过程中动态显示已展开角度2)、可用展开后的平面图像任意两点测量该两点在柱体表面间弧度或度数3)、测量展平后图像的长度、面积、两点间角度,标注4)、照片与照片比对、照片与物体视频实时比对等。
15、工控机:CPU奔腾双核E5800 3.2G;内存2GB;硬盘500GDVD光驱;独立显卡512M17寸液晶显示器