产品品牌：

牛津0XF0RD

X-Strata980元素分析仪或X荧光镀层测厚仪CMI980为牛津推出的用来测试元素的含量或镀层的厚度的电子测厚仪。
    产品简介：
     X-Strata980元素分析仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。 
    X-Strata980元素分析仪应用:
    --RoHS/WEEE
    --有害元素痕量分析
    --焊料合金成分分析和镀层厚度测量
    --电子产品中金和钯镀层的厚度测量
    --五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
    --贵金属合金分析和牌号鉴定
    X-Strata980镀层测厚仪产品特点:
    --100瓦X射线管
    --25mm2PIN 探测器
    --多准直器配置
    -扫描分析及元素分布成像功能
    --灵活运用多种分析模型
    --清晰显示样品合格/不合格
    --超大样品舱
    --同时分析元素含量和镀层厚度
    X-Strata980镀层测厚仪技术参数:
    --元素范围:S(16) to U(92)
    --可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份
    --X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管
    --探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器
    --滤波器/准直器:多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)
    --数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
    --电脑/显示器/系统软件
    Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
     15”LCD, 1024 x 768
     MicrosoftTM XP SP2
    --摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
    --电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz
    --工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
    --XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
    --样品尺寸
     305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为 50mm (2”)
     305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)
    --舱室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
    --外型尺寸
     高765mm (30.1”)
    宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
     深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended