产品品牌：

韩国

产品型号：

XRF-2000

测量范围：

韩国Micro Pioneer XRF-

	金属镀层测厚仪；荧光X线膜厚计；荧光膜厚计；韩国镀层测厚仪；荧光X线镀层测厚仪
产品型号：	XRF-2000
产品简介：
	韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.
主要技术参数：
	可测元素范围：
	钛(Ti) – 铀(U)
	可测量厚度范围：
	原子序 22-25，0.1-0.8μm
	26-40，0.05-35μm
	43-52，0.1-100μm
	72-82，0.05-5μm
	X-射线管：油冷,超微细对焦
	高压：0-50KV(程控)
	准直器：
	固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
	自动种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
	电脑系统：IBM相容,17”显示器
	综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
	镀层分析：可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
	镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
	定性定量分析：可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
	光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
	统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.