产品品牌：

环宇

产品型号：

TX500

测量范围：

0~50um

TX500型X射线镀层测厚仪

 

应用范围
 电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀
 电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜X射线镀层测厚仪分析

性能指标
 可测元素： 硫(S)－铀(U)
 可测镀层： 多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
 镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
 ：  可达0.005um
 厚度相对误差： 单层5%，多层5～10%
 厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
   中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
   重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um

 含量分析范围： 0.0002～100%
 含量检出限： 2ppm
 含量相对误差： 5～10%
 小测量直径： 0.1mm
 分析时间： 30～200S

技术参数
 探测器： 进口半导体探测器，分辨率达139eV
 X光管：  钨（W）靶，电压50kV，电流1.5mA
   使用寿命长达5万小时
 高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV
   稳定度每8小时小于0.05%
 滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
 准直器： 采用新的高科技X射线聚焦晶体，小分析面积至0.1*0.1mm^2
 对焦系统： 激光对焦
 样品台： 高步进电机驱动，XY轴二维移动，步长至0.05mm
 样品腔： 大气
 样品观察： 高清晰彩色CCD射线头
 X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制），
   低于GB16355-1996防辐射标准
 输入电压： AC 220V/50HZ
 功耗：  300W
 样品腔尺寸： 660×400×135mm
 外型尺寸： 680×460×475mm
 重量：  45Kg

功能特点
 采用进口的新型探测器，对超低含量的元素都能探测；
 自动安全的高压防护电路设计；
 的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；
 高步进电机移动样品台，实现um级的移动；
 先进的激光定位系统，定位细小局部；
 紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；
 对分析样品的状态、形状、大小、厚度自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。