高低温介电测量系统-partulab高低温介电测量系统
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地区：湖北省 武汉市
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高低温介电测量系统，佰力博高低温介电测量系统，高低温条件下研究各种材料介电性的综合测量系统！
经过多年的努力，武汉佰力博科技已经在材料物理性能表征测量领域成功积累了丰富的测量经验，为了更方便的研究高低温条件下材料的介电性能，我公司携手国内院校联合开发出VDMS-2000高低温介电综合测量系统。高低温介电测量系统可用于分析宽频、高低温条件下被测样品的阻抗Z，电抗X，导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-Dconstant软件将这些变化曲线的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析进行分析测量，高低温介电测量系统测量的频率从20Hz--10MHz，测量温度从-130℃---+400℃。
目前高低温介电测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
低温介电测量系统特点：
1、低温实现从-130℃---+400℃，升温斜率:2℃/min，控温:±1℃；
2、测量频率从20Hz-10MHz，测量0.05%；
3、采用抽真空充干燥氦气以确保样品不受温度和湿度的影响；
4、采用平行板电容器设计原理，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸；
5、采用特殊设计处理和软件补偿，解决了因测量导线过长造成的测量误差等问题；
6、采用进口可控硅和PID控温；
7、样品杆采用特殊设计，样品损坏率低，并能与电极保持良好接触。
8、单独设计样品校准杆和放样品杆；
9、系统阻抗分析仪可以配置英国WK精密阻抗分析仪，可以配置Agilent4294A或E4980A；
10、中文软件操作界面，菜单便捷，使用方便；
11、丰富多样的曲线图输出，软件可提供温度谱、偏压谱、阻抗谱、频率谱、时间谱、介电谱、Cole-Cole图，可在多窗口之间方便切换；
12、扫描多可达1600个点，具有线性和对数扫描；
13、提供-40V至+40V的直流偏置电压，可以测量样品C-V曲线；
14、数据可通过主机USB接口直接存储，也可通过GPIB接口和软件进行存储。
15、提供二年内功能升级的超值服务；
16、系统还可以扩展测量样品在变温条件下的I-V曲线、电阻率测量、热释电、磁电容等测量功能；
高低温介电测量系统技术指标：
| 测量仪器 | 精密阻抗分析仪WK6500B系列（系统配套推荐） | |
| 测量频率 | 20Hz—120MHz(常温)；20Hz—10MHz（变温） | |
| 测量温度 | -130℃---+400℃ | |
| 测量功能 | 频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图 | |
| 阻抗测量 | ||
| 测量参数 | Capacitance 电容(C)：0.01PF～1F ；Inductance电感 (L)：0.1nH～100KH Resistance 电阻(R)： 0.01 mΩ～2G Ω ；Reactance电抗 (X)： 0.01 mΩ～2G Ω Conductance 电导(G)：0.01ns～1000S ；Susceptance电纳 (B)：0.01ns～1000S Impedance 阻抗(Z)：0.01 mΩ～2G Ω ；Admittance Y参数 (Y)：0.01ns～1000S Phase Angle 相位角(?)：-90°～+90° | |
| 等效电路 | 串联或并联 | |
| AC电平 | 10 mV to 1V rms；200 μA to 20 mA rms | |
| 直流偏压 | 100 mA 直流偏流（D1选件）；+-40 V直流偏流（D2选件） | |
| 测量 | 消耗因数(Dissipation factor) : ±0.0005 (1+D2)；品质因数(Quality factor): ±0.05 %( Q+1/Q) 电容/电感/阻抗: ±0.05% | |
| 操作模式 | 绘图扫描模式 ：允许绘制和扫描两种测量参数。扫描参数——频率，水平驱动或者是直流偏压；仪表模式 ：可以作为标准的 LCR 表使用设定组织数据,每个模式都有 20 组数据可以存储在仪器内。 | |
| 电容保护功能 | 提供内置充电电容保护装置，防止仪器被电容损坏，具有高压倒灌保护装置 | |
| 波形处理 | 峰值搜索和局部分析曲线放大分析功能 | |
| 测量速度 | 测量速度快20s | |
| 数据处理 | 测量波形数据自动转换成CSV、BMP文件格式 | |
| 扫描显示 | 50、100、200、400、800、1600 | |
| 测量夹具 | 多种夹具可供客户选择；也可以为客户定制 | |
| 通讯接口 | USB、screen shot、LAN、VGA及GPIB接口 | |
| 测量温度 | -180℃~120℃ | |
| 升温斜率 | 2℃/min | |
| 控温 | ±1℃ | |
| 控温方式 | 采用PID控温 | |
| 低温样品杆 | 耐低温、电极阻抗低、绝缘好 | |
| 测试方法 | 两线法和四线法 | |
高低温介电测量分析软件
Partulab高低温介电测量分析软件采用LabView语言作为平台所开发的，通过与阻抗分析仪的完全兼容，提供比阻抗分析仪本身更加丰富的测试功能，如可以实现对样品的温度谱（参数-T）、偏压谱（C-V）、阻抗谱（Z-f-T）、频率谱（参数-f）、时间谱（参数-t）、介电谱（ε-f-T）、cole-cole图等多种扫描曲线的测量。数据可输出为.excel格式，用户可以进行更加详细的数据分析和处理，为科学研究和材料测量提供了极大的方便。