吸收率测量装置
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传 真:86-010-52720631
MJLD型吸收率测量装置
产品介绍
MJLD型吸收率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收率。配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内,填补国内测量材料太阳吸收比仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。
主要用途
测量材料表面的吸收特性。
技术指标
吸收率
◆测量范围:0.02~0.99
◆工作温度范围:-30~80℃
◆测量不确定度:当αs>0.8 为±2.0%;当εn<0.2 为±4%;其余为2.5%
◆积分球直径:Φ150
◆光源高色温:220V300W
◆探测器:真空平面热电堆
◆工作波长:0.3 5~2.5μm