【仪器简介】

广东老化试验箱可做二种测试：老化与耐黄变

老化：本机可促进加硫橡胶之劣化，以计算加热前后拉力及伸长之变化率，一般认为在70 ℃下测试一天，理论上相当于暴露在大气中6个月的时间。

耐黄：本机是模拟大气环境中，受阳光紫外线照射，外观变化一般认为在50℃下测试9小时，理论上相当于暴露在大气中6个月的时间。

设计标准：JIS-P8127、ASTM D1148

广东老化试验箱技术参数

内箱尺寸：50×50×60cm

温控范围：常温～200℃。

控制方式：自动演算控制器

温度显示：0.1℃

控制：±3℃

分布：±1℃(at-100℃)

时间记忆：0-999小时hours,停电记忆型、含蜂鸣器

转盘转速：￠45cm、10±2 转/分钟

UV光源：UV300W灯泡

标准配件：棚板2片

加热方式：热风循环

安全保护：超温断电指示灯、安全超载开关电流表

制造材质：内部SUS#304不锈钢板，外部烤漆

外型尺寸：(L×W×H) 114×94×130 cm

重量：140 kg

电源：1∮,AC220V, 15A

广东老化试验箱对半导体材料的测试原理

在老化阶段进行半导体测试之所以有意义有多种原因，在探讨这些原因之前，我们首先要明确“测试”的真正含义。

一般半导体测试要用到昂贵的高速自动测试设备，在一个电性能条件可调的测试台上对半导体作测试。它还可以在标称性能范围之外进行，完成功能(逻辑)和参数(速度)方面的测试，像信号升降时间之类的参数可到皮秒级。也许是因为可控测试环境只有一个器件作为电性负载，所以信号转换很快，能够进行真实的器件响应参数测量。

但在老化的时候，为提高产品的产量是能够同时对尽可能多的器件作老化。为满足这一要求，可把多个器件装在一个大的印刷线路板上，这个板称为老化板，它上面的所有器件都并联在一起。大型老化板的物理电气特性不能和只测试一个器件的小测试台相比，因为老化板上的容性和感性负载会给速度测试带来麻烦。所以我们通常无法用老化进行所有功能测试。不过在某些情况下，运用特殊的系统设计技术在老化环境下进行速度测试也是可能的。

广东老化试验箱系统中的“测试”可以指任何方面，从对每一器件每一管脚进行基本信号测试，到对老化板上的所有器件作几乎100%功能测试，这一切均视器件复杂性及所选用的老化测试系统而定。可以说对任何器件进行100%功能测试都是可以做得到的，但是这样采用的方法可能会减少老化板上的器件密度，从而增加整体成本并降低产量。