产品型号：

ZLD200-4T

类型：

金相显微镜

本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析，地矿部门对矿物的分析研究，电子工业中的晶体、集成电路、微电子等方面的观察测量，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好，简洁而新颖的外观更符合现代潮流，人性化的设计，简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。

    技术规格： 观察头：45°倾斜，铰链式三目 目镜：WF10×/18mm 物镜：195平场金相物镜：4×/0.1W.D.25mm、10×/0.25W.D.11mm、       20×/0.4W.D.9mm、40×/0.6W.D.3.8mm、 平台：双层移动平台，平台尺寸172mm×142mm ，移动范围30mm×30mm 滤色片：插板式滤色片（绿色、蓝色、黄色） 调焦：粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构 微动格值0.002mm 光源：带孔径可变光阑和视场可变光阑12V/20W，AC85V-230V，亮度可调节 偏光装置：检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路 可供附件： 金相图像分析软件 130万、200万、300万、500万像素 CMOS电子目镜 195平场金相物镜：50×80×100× 摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75× 简易暗场装置