双棱镜干涉实验
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产品属性
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仪器特点:采用半导体激光器(650nm、4mw)作为光源,功率稳定度优于1%。用一维位移架+十二档光探头进行数据测量,更加客观、可达0.02mm
光学实验导轨为1200mm。
技术参数: 采用半导体激光650nm、4mw作为光源,功率稳定度优于1%。用一维位移架+十二档光探头进行数据测量,更加客观、