北京羲和阳光科技发展有限公司
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专为测量太阳能硅片电阻率及厚度所设计,操作简单,测量,同时显示电阻率及厚度值。利用电容及电感传感器同步测量硅片的厚度及电阻率。可以自校正,测量环境的温度及湿度对测量结果影响很小。
可以连接电脑,采集更多的测量结果,比如TTV、平均值、小差值等。
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