奥贝特CST-50冲击试样缺口投影仪
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产品品牌:
奥贝特
产品型号:
CST-50

功能特点:   GTS-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器,与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,对比直观,操作简单,效率高。是理化试验室的必备专用设备。 主要技术参数:   投影屏:       200×200mm   放大倍数:     50X   光源:         12V   100W(卤钨灯)   电源:         220V  50Hz   150W   外型尺寸:     515×224×603mm   重量:         约18Kg ※本参数仅供参考,如有改动恕不另行通知,以公司产品实物为准。