晶片定向仪
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产品介绍: SW-A100此型仪器是给晶片定向的专用仪器。用于晶棒切割后,进行晶片的角度测量。采用手工上下晶片,自动测量角度方式,可保证晶体角度测量的准确性。为切片工艺控制提供的保障。 产品特点:    速度快,该仪器为自动化测量仪器。仪器为双工作台,分别测量晶片的端面及参考边角度。双侧可同时进行测量     误差小,开机校准方式为6次自动校准仪器,限度地消除校机误差     采用DC高压模块,具有峰值放大的特殊积分器,检测高     可测量角度的范围可根据需要设置扫描范围,范围为3     操作简便,不需要知识和熟练的技巧     数字显示角度,易观察,出错率低    每次测量结果可以被记录并保存,并可以随时获取测量角度的平均值 技术参数: 1X射线发生器部分:     X射线管:铜靶,风扇冷却,阳极接地     管电压:30KVP,全压合闸     管电流:05mA 连续可调      输入电源:单相交流220V50Hz      整机总耗电功率不大于0.3 KW 2.测角仪部分:     晶片直径:2-8英寸     度、分、秒显示方式:±15″,小读数1     测试范围2θ角:-5+110°     定向:±30 3.外型尺寸:1132(长)×642(宽)×1200(高)mm 4.重量:300kg   典型客户: 台湾及国内蓝宝石及半导体客户。