ict测试仪
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原厂ICT在线测试仪-人民币49900起!
本公司ICT开关卡设计前四端采用CMOS测量,可完全摒除内阻对量测度的影响,第五端并采用RELAY以提高隔离的能力(GUARDING ABILITY), 兼顾性能、速度及经济之要求。
针对小电容、小电感的测试,提供高达2MHz频率讯号(一般仅100KHz或1MHz),可测率大幅提高,且更、稳定。
测试时可即时图形显示不良元件、脚位及针点位置,编辑时可随点随选或手动输入零件编号、脚位、短/开路不良群组、网点列表等,方便问题查找及维修。
传统二线、三线测试技术,均只能作较粗略之量测,易造成量测的死角。本公司机种采用五线式(5 wires)测试技术(2 wires信号, 2 wires测量表头,1 wire Guarding),可快速、量测。
ATPD自动测试程式除错(Automatic Testing Program Debug),大幅节省DUT测试程式制作时间。
针对被测板可作每日、每月或特定期间之测试资料统计分析。根据不良零件、不良针点排行,能很快找到生产问题点所在,有效地达到如针床品质、DUT品质等生产问题之监控。