仪器介绍

      氢化物—原子荧光光谱法（HG—AFS）是将氢化物发生技术与无色散原子荧光检测系统完美的结合，从而发展起来的一种新的联用分析技术，专门用于测试可形成气态氢化物的As、Sb、Bi、Se、Te、Pb、Sn、Ge，以及可形成挥发性气态组分的Hg、Cd、Zn等元素。氢化物发生原子荧光光谱仪具有仪器结构简单、分析灵敏度高、气相干扰少、线性范围宽、分析速度快等优点，受到国内外分析工作者的高度重视。
      AFS200T双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司精心打造，使用多项国家技术，具备完全自主知识产权的精密分析仪器。它性能优良、功能齐全，可以满足用户的全方位样品分析测试需求。

性能特点

检测元素范围：As, Sb, Bi, Hg, Se, Te, Pb, Sn, Ge, Zn, Cd等11种元素。
检测限（D.L）:As, Sb, Bi≤0.01ng/ml  Hg≤0.001ng/ml
精密度（RSD）: ≤1%；线性范围：大于三个数量级
采用非色散光学系统，结构简单，可进行多两道元素同时测量。
灯电流、负高压、蠕动泵转速等自动控制；USB2.0通讯接口。
Ar气流量自动控制，仪器不工作时自动切断Ar气，方便用户操作，节省气源用量。
仪器内部配备火焰实时观察装置，方便用户检测仪器运行状态。

技术指标

1，检测元素范围
As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Pb、Sn、Ge、Zn、Cd等11种元素。
2，典型元素检出限（D.L）
As，Sb ≤ 0.01ng/ml   Hg ≤ 0.001ng/ml
3，精密度（RSD）
典型元素精密度 ≤ 1%
4，线性范围
大于三个数量级

标准配置

低温原子化器
2部蠕动泵
电路控制系统
光电倍增管
高清晰摄像头
2部质量流量控制器
原子化器高度微调装置
光学系统

应用领域

地质、环境、冶金、食品、生物、医药、农业植物样品、轻工、化妆品等