产品品牌：

牛津Oxford

产品型号：

CMI900

牛津仪器X荧光镀层测厚仪 CMI900是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

․涂镀层厚度测量和/或材料成分分析，元素范围 Ti - U

․可同时进行多达15层元素成分分析

․测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987应用

․多镀层金属厚度测量

․合金鉴定及化学分析

․电镀液分析

․金成色分析

X荧光镀层测厚仪 CMI900

特点

․标准50瓦微焦X射线管

․计数率增加，提高

․可升级75瓦光管

․多准直器

․计数率和光斑尺寸之间的平衡

․激光聚焦

․改善系统再现性（消除人为干扰）

․标准FP软件包

․ 综合应用模式

․ 简单校准

․ 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标

․ 提供中文等7种语言接口

X荧光镀层测厚仪 CMI900

规格

․ X射线激发

․ 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管

․ 探测器

․ 氙气填充的正比计数器

․ 数字脉冲处理

․ 4096 多道数据分析功能

․ 自动信号处理，包括死时间修正

․ 计算机

․ 奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，Microsoft

TM XP系统同等配置或更好

․ 电源

․ 85~130 或 215~265 伏， 频率范围：47Hz - 63Hz

․ 工作环境

․ 50°F (10°C) - 104°F (40°C) ，相对湿度达98%，非凝固状态

․ 工作台行程（XYZ 轴可调节）

․ 6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm)