X-4显微熔点仪测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃(在<200℃时)
          ±2℃(在200～300℃时)
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
X-4显微熔点仪如果您对本产品价格、图片、参数、售后等有任何疑问欢迎致电咨询：王斌,！