概述

TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护必备的仪器。

符合以下标准：

GB/T 4957-1985 涡流方法

JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

功能特点

1.采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）

2.具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

3.具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)

4.设有五个统计量：平均值、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

5.可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

6.具有存贮功能：可存贮350个测量值

7.具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据

8.可设置限界：对限界外的测量值能自动报警

9.具有打印：可打印测量值、统计值

10.具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理

11.具有电源欠压指示功能

12.操作过程有蜂鸣声提示

13.具有错误提示功能

14.具有自动关机功能

技术参数

1.测头类型：N

2.测量原理：电涡流

3.测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

4.低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um)

5.探头连接方式：分体式导线连接

6.示值误差： 一点校准(um)：±[3%H+1.5]    两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

7.测量条件：

小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10

基体小面积的直径(mm)：ф5

小临界厚度(mm)：0.3

8.温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

9.统计功能：平均值、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

10.工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

11.测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

12.上下限设置：无

13.存储能力：350个测量值

14.打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑

15.关机方式：手动和自动

16.电源：二节AA型碱性电池

17.外形尺寸：152×47×35mm

18.重量：370g

基本配置

1.主机 、2.铝基体 、3.标准片一套|五片 、4.二节AA型（5号）1.5V电池 、5.仪器保护套、6.使用说明书

可选购附件

1.TA230打印机