供应XN-5100落下量测分析仪
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落下量测分析仪

在对产品进行抗冲击试验或对未知冲击事件进行分析时,落下测量分析仪将为您带来极大的方便。该分析仪符合MIL-STD-810GJB-150-18-86IEC68-2-27标准,它具有精准、快速的冲击波形捕捉能力,采样率可达1MHz,您不必再担心哪怕很窄小的冲击事件被漏过。
       
它同时也是一个整合的解决方案,您不必忙碌于波形查看和记录,它可以从捕捉冲击事件到生成一并完成,更重要的是,它还为您提供了冲击响应谱(SRS)分析功能,可以帮助您对于冲击脉冲对实际系统的潜在损伤进行有效的评估。后,辅助的力变形、冲击响

应等分析可以帮助您了解冲击结果的更多细节。
       
有两种试验模式:典型冲击模式和冲击响应谱模式。典型冲击模式基于典型时域理想波形,适用于冲击台、跌落台等。冲击响应谱模式基于目标冲击响应谱,适用于冲击响应谱试验机。

产品特点 

符合MIL-STD-810GJB-150-18-86IEC68-2-27标准,DELL标准

采样频率可达1MHz

测试加速度100,000gn

小测试脉宽0.1ms

多帧波形记录与回放

支持内、外部触发

名称

XN-5200系列

XN-5100系列

输入通道

12个电压输入通道
内置电荷放大器,支持电荷信号直接输入

48个电压输入通道

输出通道

1个电压输出通道

采样频率

高至192kHz

高至1MHz

电压范围

-10VPEAK~+10 VPEAK

耦合方式

电压,ICP,电荷(2通道可选)

电压、ICP

ADC分辨率

24

16

脉宽

0. 5-1000ms

0.1-1000ms

加速度量程

20,000gn

100,000gn

动态范围

110dB

80dB

谐波失真

<-95dB

<-70dB

信噪比

>95dB

>70dB

频率

0.01%

冲击波形瞬态捕捉
瞬态捕捉帮您得到单个或多个脉冲,系统自动分析冲击脉冲的峰值、脉宽、速度变化量、头部伤害指数HIC等数据,自动将捕获的脉冲波形匹配到理想波形,并比较两者间的偏差。

 


冲击响应谱分析
冲击响应谱分析可对冲击产生的潜在损伤进行评估,为设计产品的抗冲击能力提供依据。系统对每个冲击脉冲进行SRS分析,比较实际SRS和目标SRS的偏差。

 


其他分析
力变形分析、冲击响应演示、旋转冲击分析等冲击试验中必要的分析。力变形分析计算脉冲产生的力峰值、变形峰值、能量、效率等。冲击响应演示提供学习冲击响应谱的工具。旋转冲击分析用于旋转冲击机器或其他旋转控制事件,该信号由轴向加速度测量计算得到。