光谱仪 -- Ux-700 苏州华唯、天瑞镀层检测仪器有限公司
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产品属性
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产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷 探测器分辨率:149eV高压范围:5-50Kv,50WX光管参数:5-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用镀层滤光片CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:Ø0.5mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义样品腔:70*20mm整机重量:38kg 镀层测厚方法:1.磁性涂层测厚法 使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度,如铁上镀铜、锌、铬、金、银等,涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。2.涡流层层测厚法 可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度,如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度3.X射线荧光法 所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试,同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。 常用单位:微米(um),微英寸(u‘’)俗语“迈”,密耳(mil)1um=39.4迈, 1um=0.04mil