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高压加速老化试验箱 PCT饱和试验箱
随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。现在就PCT饱和高压加速老化试验箱。
1、产品型号规格
名称
| PCT高压加速老化试验箱 饱和老化寿命试验箱
PCT—55 |
2、规格材料 温度范围
| PCT内箱尺寸:500x650mm PCT外箱尺寸:850x1300x1450(W.H.D) 10℃~132℃(143 ℃按客户要求) |
3、严禁产品
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(1)腐蚀性物品禁止试验箱内 (2)易燃、易爆、易炸物品禁止试验 (3)氢汽、氧汽之类在15度以下可燃物品 |
湿度范围 |
100%RH饱和蒸汽
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压力范围
| 表1、+0.2~2.0kg/cm2 表2、+0.2~3.5kg/cm2 |
温度精准率 | 0.1准确压力 |
准确温度湿度
| ±0.5℃,100%湿度 |
加压准确时间标准 | 一般45分钟~55分钟 |
功能方式
| 浮球补水功能 |
安全装置
| (1)缺水报警安装指示灯鸣叫 (2)双重安全阀:排除超压蒸汽(3)门一定要完全锁好才能驱动工作(4)电源要特别仔细检查 |