高压加速良好寿命试验箱 P老化试验箱的实力产品厂家【永雄】
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                 高压加速老化试验箱 PCT饱和试验箱   

 随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。现在就PCT饱和高压加速老化试验箱。

 

 

1、产品型号规格

 

       名称

 

 

         PCT高压加速老化试验箱 饱和老化寿命试验箱

                      

                       PCT—55                                                                                                         

  2、规格材料  温度范围 

 

 

 

 

 

 

 

 

 PCT内箱尺寸:500x650mm

 PCT外箱尺寸:850x1300x1450(W.H.D) 

  10℃~132℃(143 ℃按客户要求)

     3、严禁产品     

 

 

 

 

 

 

(1)腐蚀性物品禁止试验箱内

(2)易燃、易爆、易炸物品禁止试验

(3)氢汽、氧汽之类在15度以下可燃物品

湿度范围

 

  100%RH饱和蒸汽

 

   压力范围

 

 

 

表1、+0.2~2.0kg/cm2  表2、+0.2~3.5kg/cm2

 

 

 

温度精准率

0.1准确压力

 

准确温度湿度

 

 

±0.5℃,100%湿度

 

 

加压准确时间标准

一般45分钟~55分钟

功能方式

 

 

 

浮球补水功能

安全装置

 

 

(1)缺水报警安装指示灯鸣叫  (2)双重安全阀:排除超压蒸汽(3)门一定要完全锁好才能驱动工作(4)电源要特别仔细检查