FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。

用途广泛的镀层厚度测量仪

通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.

配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点

比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率

从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。

底部C型开槽的大容量测量舱

测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层

电子行业中接插件和触点上的镀层

装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS

电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe

珠宝和钟表工业

测量电镀液中金属成分含量