产品介绍：

如果电子模块和设备在burst和ESD脉冲测试中发生功能失效，那么被测设备（EUT）必须进行修改。E开发系统被用于快速和的确定EUT内功能失效的原因，用户能够找出多少以及为什么独立的导线和元件被影响，这允许用户直接在电路上或在布局布线中进行适宜的纠正行为。SGZ21 burst产生器可以产生必须的测试脉冲，这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到EUT中，在测试过程中，通过一个传感器和EUT内部测量得到的干扰电流，信号可以被监视。

包括：

Burst产生器SGZ21

带有OFP的EMC传感器S31

磁场探头MS02

磁场源探头BS02

磁场源探头BS04 DB

磁场源探头BS05 D

磁场源探头BS05 DU

电场源探头ES00

电场源探头ES01

电场源探头ES02

电场源探头ES05 D

电场源探头ES08 D

附件

使用说明

带有泡沫塑料填充的包装箱