光学影像测量仪—展示

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产品综述

这是我司新推出的一款多功能２D光学检测仪，拥有CCD优质成像技术，独有的双向同步倍率校正技术（）SONY芯片高清晰度CCD, 采用独特同轴光、底光设计和具有投影与正像两种成像方式,具有18x-120x倍的连续变倍电子放大功能。广泛适用于电子、模具、精密机械、珠宝、钟表、饰品、指纺鉴别、票证识伪、印刷、光纤、手机维修、考古、技术监督等领域。
 性能构造
具有1：6.3光学变倍比
采用连续变焦光学系统             　　　　　　　　　       具有正像投影成像方式
自动扫描收集数据               　　　　　　　　　          采用上光源、透射光设计
采用SONY蕊片CCD                 　　　　　　　　　     具有消场曲和消畸变的成像特质
具有18-120x的电子放大能力,具有机器视觉功能， 自动提取边缘，自动测量测绘，测量软件可进行各种图像测量和处理，支持多种格式，可进行图像存储、打印、编辑、发送等。
功能说明
元素测量：测量点、线、圆、弧、角度、椭圆，规定点数测量矩形，自动识别点、线、圆、弧。
元素构造：中心点构造、交点构造、中点构造、线构造、圆构造、角度构造。
元素预置：点、线、圆、弧。
图形处理：座标平移，工件摆正。任意轴摆正，座标系重置。
图形放大，图形缩小，图形平移，图形打印图形选中，取消选中，图形删除。
设置放大，图形缩小，图形打印圆形选中，取消选中，图形删除。
设置影像的灰度，饱和度，对比度，影像保存为BMP格式。
多种寻边模式，电脑自动取点，自动识别圆、弧大大提高采点速度。
影像支持S端子输入；影像大小640*480mm。测量数据直接发送到AutoCAD中，测量的图形可以dxf文档保存。测量数据可发送到WORD，Excel中，进行统计分析，可画出简单的Xbar-S管制图，求出Ca，等各种参数。多种语言界面切换．
 
技术参数

      本公司成立于2006年,是一家生产和代理销售国内外仪器仪表,电子工具及配套设备的公司.主要服务于电子,电力.化工,医药等行业.为企业的生产,研发,品管部门提供准确的选型支持和完备的售前,售后服务.

     公 司 精 神：    团结、创新、诚信、务实

     信          念：    品质铸就信赖、信誉铸就生命、责任铸就未来

     服 务 宗 旨：    视用户的真心满意为的回报和鼓舞

     经 营 理 念：    奉献的产品、更好的服务、实现合作双方的共赢
 
     本公司自成立以来，在全兴宇鑫人共同努力下，凭信息、产品、价格、服务之优势已同各行各业的许多用户朋建立了友好的合作伙伴关系，树立了良好的信誉，得到他们一致的好评和大力支持。“没有，只有更好”是我们始终不渝的追求，我们将以“一流技术产品，一流的服务态度”创造新的辉煌.