HCC-24（V2.0） 磁阻法测厚仪
1 概述
HCC-24磁阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量
仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚
度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。
由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简
单、使用方便、稳定性好、测量高的优点。仪器具有
数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、值及
小值。
本仪器采用电磁感应原理进行测量，符合国际标准
ISO2178和国家标准GB/T4956。当探头与覆盖层接触时，探
头和磁性基体构成一闭合磁回路，由于非磁性覆盖层存
在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。
通过对磁阻的测量，经电脑进行分析处理，由液晶显示器
直接显示出测量值。
2 技术参数
1）测量范围：0 ～1200 um。
2）示值误差： ((1~3)%H+1 m）H为被测涂层厚度。
3）分 辨 率：1 m。
4）小测量面的直径： 10 mm。
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5）显 示：4位LCD显示测量的次数、平均值、
大值、小值，同时指示仪器的工作状
态及电池使用情况。
6）电 源：一节6F22型9V电池。
7）外形尺寸：160 mm 80 mm 30 mm。
8）质 量：约250g。
9）使用环境：温度0℃～40℃；
相对湿度不大于90%。
3 仪器外型
显示窗
面板
主机
探头
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4 按键说明
1） 开/关 ：仪器的开关键。
2） 统计RES ：数理统计键，对测量结果进行数理
统计，并顺序显示下述数据，即测量的次数
（N）、平均值（MEAN）、值（MAX）、
小值（MIN）。
3） 清除DEL ：从统计中消除当前测量值的键。
4） 校正CAL ：用于校正仪器的键。
5） ︿ ：处在校正方式时，递增显示数值的键；在
正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
6） ﹀ ：处在校正方式时，递减显示数值的键；在
正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
5 仪器的基本使用方法
用本仪器进行测试使用起来非常简单：首先用螺丝刀
撬开仪器背面的电池盒盖，装入电池。然后按 开/关 键
开机，仪器显示 - - - ，2秒钟后显示 0 um ，仪器便
进入测量状态。此时，用户只要将仪器的探头垂直压在被
测面上（如图1）。注意，探头按下时，探头的尾部会抬
起，手不要碰到探头的金属部分，以免影响保持探头内体
自由上下活动。保持探头放置稳定，仪器显示器上会出现
一个 标志，并显示测试结果。仪器便会显示测试结
果。如果要再测，往上提探头使其离开被测面，然后
再按下探头，仪器随后就会显示新的测试结果。如果被测
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面是弧形的，按图2的方式，使探头下端的三角开叉跨在被
测件上，这样便能稳固地放置探头，保证测试结果准确。
图1 图2
为了保证仪器正常工作并获得工作状态，请注意
以下2个使用细节：
1. 在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物体
（10cm以上），直到仪器显示 0 um 为止。否则，仪
器会一直显示 - - - ，进不了测试状态。
2. 每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这样会
使仪器处于良好的环境适应状态。
6 正式测试前的准备工作
用户购买后的新仪器在进行实际使用前，都必须要进
行仪器的校正，这是保证仪器达到标称的重要保证，
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请务必重视。
2.0版仪器有多种校正方法，使用很灵活，用户可根据
实际需要选择如下一种方式：
1） 全范围高准确度的传统校正法
用户通过随机配备的三个不同厚度的试片和裸基体完
成校正，具体步骤如下：
步骤一
在仪器处于开机后的状态时，按一下 校正CAL
键，仪器屏上会出现 CAL ，同时会显示一个数值，该
数值如果不为 0 ，按 ﹀ 键，直到该数值由大到小变
到 0 为止。然后将探头放在裸基体的测试面上进行测试
（注意，这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状
完全相同。不要使用随机配备的标准金属基块，那只能用
来验证仪器本身工作是否正常，不能用来校正仪器）。可
以测试几下，待仪器上显示的数值基本稳定后，按一下
校正CAL 键，仪器的零点便校正完毕，它会显示一个
新的数值。
步骤二
接上一步骤，用个试片来校正。看一下仪器上显
示的数值和随机配备薄的试片的实际厚度是否一致，该
片所标注的实际厚度在20um左右。用 ︿ 或 ﹀ 键，
使仪器上显示的数值和该试片的实际厚度值一致。然后将
该试片平放在裸基体上，探头再压在上面进行测试，可以
重复几次。待仪器显示的测量值稳定后，按一下 校正
CAL 键，个试片的校正结束，仪器又显示下一个校正
片的厚度值。
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步骤三
用步骤二相同的方法，只是所用试片要换成厚度200um
左右的那一片。
步骤四
依然和步骤二相同，但所用的试片要换成1200um左右
的那一片。到这个步骤的后阶段，按一下 校正CAL
键，仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值，如
1999 ，不用再做下去了，再按一下 校正CAL 键，
校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实
际测量了。
在以后使用时，如果有必要，可以再次做上面四个步
骤的校正。仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度
值，这样就可以根据仪器提示，不用再修正试片厚度值，
便能轻松完成各个步骤。
2） 上下限校正法
在大多数情况下，用户使用本仪器测试的对象有一定
的共性，如材料和形状相同，涂层厚度也局限在某个范围
内，此时用户关心的也许是被测对象的涂层是否超差。如
果这些条件成立，那么就没有必要使用上面多步骤的传统
校正法，而只需要运用上下限校正便能很好地完成使命。
本方法只需要两个步骤校正两点，当然，这两点
直接选用用户被测件涂层允许范围中的小和厚度。
这样校正的结果，仪器在这两个校正点上的非常高，
甚至比上面传统的校正还要好。要实现这一点，用户首先
要设法获得符合这两个校正点厚度的试片，可以向本公司
提出购买特殊试片的要求，也可以自行寻找符合条件的样
片。