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检测设备供应商
德国Bruker光谱仪重庆总代理
LSP-X1高性能三维扫描探测系统
LSP-X 系列:形状的真实再现! 真正的三维探测;无电机= 没有热源;结构坚固= 维护容易。
新型的LSP-X1 扫描测头,既能够提供高测头的精密计量工具,又能够和TESASTAR-m 自动分度测座完美匹配。点到点和连续扫描两种模式都能够全面兼容,是中等尺寸的楞边复杂型和曲面复杂型工件的理想检测方案。LSP-X1具有两种吸盘,并且可以支持长达220mm 以内的各种探针。吸盘的自动更换可以通过TESASTAR-r 自动更换架实现,也可以通过专门的支架仅仅更换探针。这种磁吸测头系统能够快速和高重复性的完成更换。
技术优势:
- 超长探针
允许探测工件内部的深孔等特征。包括自动重量平衡系统。
- 自动探针更换功能
在测量过程中执行自动探针更换,而不需要重新校准。探针的磁力吸盘保证了快速而的更换。
- 具备碰撞保护功能
在发生误碰撞的情况下保护测座。使得测量系统的工作时间达到化,并降低了拥有成本。
LSP-X 系列: 形状的真实再现!
- 真正的三维探测
接触工件表面时,测头会自动沿着工件表面的法矢量进行测量。通过线性可变微分传感器(LVDT)探测偏差,即使使用长的加长杆,也可以对探针的弯曲进行准确补偿。这一特性减少了余弦误差,确保了更高的测量和效率,这对检测复杂几何体如齿轮、转子和叶片等是至关重要的。
- 无电机= 没有热源
- 结构坚固= 维护容易
紧凑、高性价比、超高的三维固定式扫描测头,可配置长达360mm 的加长杆和探针。LSP-X3 可以高速单点方式进行常规测量,也可以高速扫描的方式对形状和轮廓进行检测。是尺寸要求比较高的中小型箱体零件和复杂几何零件检测的理想配置。其自动更换能力使得探针可由测量程序控制自动更换,更换测头不需要进行重新校准。测座上的磁性连接,确保探针更换快速、可靠。
LSP-X5高性能三维扫描探测系统
LSP-X 系列:形状的真实再现! 真正的三维探测;无电机= 没有热源;结构坚固= 维护容易。
超高、全三维、固定式扫描测头,可沿着定义的工件表面方位,在X,Y 和Z 三个方向同步测量。这一高承载的模拟测头系统,即使在超长加长杆和沉重探针组的情况(长800 mm,重620g)下也可保证达到极快的速度和极高的重复。LSP-X5 包括一套特有的防撞系统,用于测头和探针的特别保护。LSP-X5 是完成高机械零件和复杂几何形状的理想工具。其自动更换能力使得探针可由测量程序控制自动更换,更换测头不需要进行重新校准。测头探针的气动夹紧确保更换快速、可靠。