供应ta一维二维测高仪
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TESA MICRO-HITE plus M测高仪测量功能更强大,操作更为直观和轻松,革命性的旋转控制按钮将手动测量的速度和自动测量的完美结合。

基于其坚固的独特的设计,使得测高仪更适合于车间和检测实验室。

可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。

-可以记录孔在两个坐标方向的尺寸,并且可以以极坐标或直角坐标方式输出数据。

-在我们的车间通过TESA系统对本身机械性能的调整,确保了仪器能通过指示表快速、可靠的检测垂直度。

- plus M控制面板加TESA IG-13数字测头可以测量直线度、平行度。

·继承了TESA MICRO-HITE成功的模块化特色。在下方接近底座位置安装了独有旋转控制按钮,此系统配有气垫装置可以使高度规快速移动然后进行有效测量,简单的旋转按钮可以使测针快速移动接近被测元素,然后慢速进行向上、向下或孔的测量。

 

量程有365615920 mm三种尺寸。

根据数值处理和数据输出的需要,有三种控制面板可供选择。

英制和公制液晶显示,分辨率达0.00010.001 mm或同于相当的英制单位。

采用电池供电,不用电缆。

内置空气轴承,可在平台上随意移动。

电动测头可以恒定测力进行快速触测。

TESAμ系统确保匹配稳定性和易用性。

CAA (计算机辅助)功能确保高。

具有和钢一致的线膨胀系数(11.5 x 10-6K-1)

RS 232数据输出。

每台测高仪具备SCS校准证书。