供应F-P固体标准具(FP标准具)
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平面性误差:≤λ/100精细度：F≧30直径： Φ20，Φ25厚度：0.5，1，1.4，2，5，10（厚度和尺寸可按用户需求定制）材料：石英 多层介质高反膜系可按用户要求制作。通常为R＝95%，△λ＝200nm。本仪器是高分辨率仪器，因为其片性，使用时无须调节，特别方便轻巧。广泛用于光谱超精细结构、同位素位移谱线轮廊与宽度及塞曼效应的观测；激光模式观测和选模、选频；光通信中作为滤波器用于波分复用。
一用途：
Fabry-Parot标准具是一种应用广泛的高分辨干涉分光仪器。可用于高分辨光谱学，和来研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，分析激光中的光谱成分（纵模、横模）当然也少不了它。
二如何选用：
根据具体实验目标选用合适参数的标准具是保证实验成功的前提。所附“浙江大学物理系近代物理实验教材（附件1）”中简述了FP标准具各个参数的意义。使用时应选好以下参数：
- 精细度F。主要取决于镜面反射率R(λ)，同时受镜面被照射部分平整度和平行度的限制。还受限于探测器的空间分辨率。
- 峰值透过率TMax。被研究光源是弱光源时，应重视此参数，以获得探测时必要的信噪比。它取决于反射膜的损耗和镜面介质的损耗，以及镜面的反射率。
- 衬比因子C。当被研究光源很弱时。要注意提高C以抑制背景信号。C主要取决于镜面反射率R。
另外，还应选择有足够温度稳定性的抗振性能良好的标准具对顺利完成实验有重要意义，在这方面，固体标准具，后者又优于空气隙具优于压电扫描标准具。
三、产品介绍：
本公司主要成员从1979年开始就致力于Fabry-Parot干涉仪（标准具）的研究。1985年研制成功气压扫描F-P标准具并出色地用于塞曼效应实验，通过省级鉴定，拍摄了教学录像片，在国内众多高校传播。1986年获国家教委二等奖（见附件２）在北大、清华、复旦、浙大应用受到好评（见附件3）后来与中科院上海硅酸盐所合作研制了“双重压电控制高F-P平镜平面度测量干涉仪”并于2000年通过省级鉴定（见附件4）测试λ/1000以上。保证了制作的标准具关键指标“平面度”在λ/100以上，质量可以与国外昂贵产品媲美。固体FP标准具技术参数：
1.平面性误差小于λ∕100,精细度≥30。
2.几何厚度系列有：1、1.4、2、5、10mm(也可按用户要求制作)。在不同波长时，其介质折射率为：
λ(nm) 365.5 404.7 435.8 546.1 587.6 656.3
n 1.474 1.470 1.467 1.460 1.458 1.456
其中厚度为1.40mm的尤其适合作为磁感应强度Ｂ＝1.0～1.2T时塞曼效应的观测。
3.镜面膜层为多层介质膜，反射率约94％，高反波段宽度大于1000Å，中心波长5461Å。（也可按用户要求制作）
4．基片直径：ф20，ф25。
5．外框尺寸：外径ф32，厚16mm（片厚1.0,1.4,2.0mm）；19mm(片厚5mm);24mm(片厚10mm) 。
更多详细资料请见www.jcgdz.com