东京精密 便携式粗糙度仪 E35B
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测量范围及Z轴(纵方向)±160μm
X轴(横方向)12.5mm
测定分辨率0.01μm/±20μm~0.08μm/±160μm
测量速度(X轴)0.6mm/s(返回1mm/s)
传感器测针半径5μm
测针材质金刚石
测量力4mN以下
测量及分析项目对应规格JIS-2001、JIS-1994、JIS-1982、ISO-1997、ISO-1984、
参数或计划类型Pt、Ra、Rq、Rz、Rzmax、Rp、Rt、R3z、RSm、Pc、Rk、Rpk、Rvk、
Mr1、Mr2、VO、K、Rmr、R、Rx、AR、W、Wx、AW、Wte(JIS-2001)
评价曲线断面曲线、粗糙度曲线、ISO13565特殊曲线、粗糙度Motif曲线、
波纹度Motif曲线、包络波纹度曲线(可通过Surf_tool软件显示)
滤波类型高斯、2RC
截止波长λc:0.08、0.25、0.8、2.5mm;λs:2.5、8μm
配件及其他测针种类四种类型测针
数据导入导出配置Surf_tool软件,可将测量导入电脑处理。
使用电源内置电源,使用时需先充电