泰克MSO71604C混合信号示波器/泰克苏州代理商
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MSO71604C混合信号示波器自定义的滤波器和反嵌功能
创建自己的滤波器或使用 MSO/DPO70000 系列标配的滤波器,提高您隔离或去除信号分量(信号的噪声或特定谐波)的能力。 这些可自定义的 FIR 滤波器可以用于实现信号处理方法,比如,去除信号预加重或减少夹具和电缆连接到被测设备时的影响。 使用可选的串行数据链路分析可视化工具 (SDLA64) 应用程序,您可以进一步洞察串行数据链路,能够模拟 S 参数的串行数据通道,移除由夹具、电缆或探头引起的反射、交叉耦合和损耗,以及打开使用 CTLE、DFE、FFE 等接收器均衡技术时通道效应造成的眼图闭合。 用于指定硅接收器均衡的 IBIS-AMI 型号可用于观察片载行为。
MSO71604C混合信号示波器SDLA - 串行数据链路分析可视化工具(选项 SDLA64) – 能够仿真串行数据通道、反嵌夹具、电缆或探头,以及增加或去除均衡。 选项 SDLA64 还为波形处理提供了 IBIS-AMI 接收器均衡或者 CTLE、FFE 和/或 DFE 均衡。 DPOJET 可以对得出结果的波形进行测量和抖动分析。
MSO71604C混合信号示波器应用专用解决方案——实现标准规定、测量自动化和扩展信号分析
准确、简单和可定制的物理层测试——为满足需要行业标准的设计人员,MSO71604C混合信号示波器以选项形式提供标准规定的一致性测试和分析模块,用于配置通过/失败波形模板和测量极限测试。 模块适用于 PCI Express®、DDR 内存、串行 ATA、SAS、HDMI、以太网、DisplayPort、MIPI® D-PHY 和 M-PHY、电源和 USB。
请参阅下列内容,了解可提供应用专用解决方案的亮点:
DDR 内存总线分析(选项 DDRA)——自动识别 DDR1、LPDDR、LPDDR2、LPDDR3、DDR2、DDR3、DDR4 和 GDDR3 读和写,并进行 JEDEC 一致性测量,为每个读写突发脉冲的所有边沿提供通过/失败结果。 DDRA 具有对时钟、地址和控制信号进行测量的能力。 除了可以进行一致性测试之外,DDRA 与 DPOJET 相结合,还为调试复杂的内存信号问题提供了快速的方式。 DDRA 在提供 16 条数字逻辑探测通道的 MSO70000 系列混合信号示波器上运行时,还可以使用命令/地址行触发特定读/写状态。
USB 3.0 发射机测试解决方案(选项 USB3) – 执行 USB 3.0 设备的验证、检定和调试。 测量在 DPOJET 中进行,符合 USB 3.0 技术规格要求。 对于一致性和自动化,可以使用 USB-TX。
MSO71604C混合信号示波器PCI Express® 发射机一致性和调试(选项 PCE3) – 通过全面测试支持分析 PCI Express® Rev 1.0、2.0 或 3.0(草案)设计的性能。 利用 DPOJET,选项 PCE3 实现测试符合 PCI-SIG 标配。
MSO71604C混合信号示波器以太网一致性测试解决方案(选项 ET3) – 完全得到 PHY 层支持,适合 10BASE-T、100BASE-TX 和 1000BASE-T 等以太网衍生类型,提供全面的集成泰克®以太网工具集。 模拟检验、自动化的一致性测试软件和设备检定解决方案一应俱全。
MSO71604C混合信号示波器MIPI® D-PHY 检定和分析解决方案(选项 D-PHY) – 使用全面灵活且可定制的测试设置,通过迅速检定和发现抖动和信号完整性问题来源检验是否达到 D-PHY 技术规格。 使用 DPOJET,选项 D-PHY 可以执行发射机高速数据时钟定时测量,同时提供高速或低功率模式下的全面电气特点。
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