適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角（光學軸）或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。

 檢測器採用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的高相位差量測。

 可選配傾斜式、旋轉式量測平台，評估三次元折射率參數解析等視野角特性。

 配合量測樣品，自由架構量測平台。

液晶層間隙檢查機 RETS series雙折射相位差光譜分析儀系統 MCPD series低相位差高速檢查機 RE-100

■ 已知入射角度的相位差量測

■ 三次元折射率參數解析