FISCHERSCOPE®X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE®X-RAY XUL®XYm

X射线光谱仪，用于无损厚度测量和成分分析

FISCHERSCOPE X-RAY

简介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它

结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高测量。由于采用了Fischer基本

参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确

分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。

XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有：

在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

在连接器和电气元件上的测量

电镀液的溶液成分分析

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根

据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同的样品平台：

XUL：

固定平面平台

XUL XYm：手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更

大体积的样品。

外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的

印制线路板等。

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测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XUL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国”Deutsche

Röntgenverordnung-RöV”法令要求。

FISCHERSCOPE®X-RAY XUL®

通用规范

用途

可测量元素范围

设计理念

测量方向

X射线源

X射线靶材

高压

孔径（准直器）

测量点大小

测量距离，如样品为腔体时

能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于测量镀层厚度和材料分析

从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM®BASIC，可多同时测量24种元素

台式仪器，测量门向上开启由下往上

带铍窗口的钨靶射线管

三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV

圆形Ø 0.3mm，（可选配置：矩形0.3 mm x 0.05 mm）

取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，

小的测量点面积约为Ø 0.51 mm。

使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能：

测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围；

测量距离为20 ~ 27.5 mm时，为非校准范围。

X射线探测

X射线接收器

二次滤波器

 样品定位

视频显微镜

 放大倍数
比例接收器

可选：钴滤波器或镍滤波器

 高分辨率CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置

十字线带有刻度尺和测量点指示装置

测量区域的LED照明亮度可调节

38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x;数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

样品台

设计

X/Y方向可移动范围

样品放置可用区域

样品重量

样品高度

电气参数

XUL

固定样品平台

-250 x 280mm

2kg

240mm

XUL XYm

手动XY平台

50 x 50 mm

电压，频率

AC 115 V或AC 230 V

50 / 60 Hz

功率

为120 W (测量头重量，不包括计算机)

FISCHERSCOPE®X-RAY XUL®

 仪器规格

外部尺寸

重量

内部测量舱尺寸

环境要求

测量时温度

存储或运输时温度

空气相对湿度

计算系统

计算机

软件

宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510

约45 kg

宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240

 10°C– 40°C / 50°F – 104°F

0°C– 50°C / 32°F – 122°F

≤ 95 %，无结露

 带扩展卡的Windows®个人计算机系统

标准配置：Fischer WinFTM®LIGHT

执行标准

CE合格标准

X射线标准

型式许可

如有特殊要求，可与Fischer磋商，定制特殊的XUL型号。