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涂层测厚仪MC-2000
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涂层测厚仪MC-2000
MC-2000系列涂（镀）层测厚仪/MC-2000 COATING THICKNESS GAUGE

  技术参数
MC-2000 A 型测量范围：0-1500um
MC-2000 C 型测量范围：0-5000um
MC-2000 D 型测量范围：10-9000um
可订做管道内涂（镀）层测头，30mm管径以上
测量：±（3%厚度值+1）um
存储容量：253个测量值（带日期）
（可连接打印机）时钟、日期显示
EL背光、全中文汉显、全属机壳
测量材料：铁基
外型尺寸：50×95×24mm

MC-2000C型涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。