GB/T 6672 CHY-CA薄膜测厚仪（labthink国际品牌）
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GB/T 6672 CHY-CA薄膜测厚仪（labthink国际品牌）适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。了解详情请致电：济南兰光或登录www.labthink.cn查询
薄膜测厚仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降自动进样
手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计显示值、小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数标准接触面积、测量压力（非标可选）显示值、小值、平均值和统计偏差标准量块标定RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输薄膜测厚仪技术指标测量范围：0～2mm 0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0～1000mm进样速度：0.1～99.9mm/s电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）净 重：32kg薄膜测厚仪标 准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817薄膜测厚仪配 置标准配置：主机、标准量块一件选 购 件：软件、通信电缆、测量头、配重砝码
薄膜测厚仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降自动进样
手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计显示值、小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数标准接触面积、测量压力（非标可选）显示值、小值、平均值和统计偏差标准量块标定RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输薄膜测厚仪技术指标测量范围：0～2mm 0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0～1000mm进样速度：0.1～99.9mm/s电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）净 重：32kg薄膜测厚仪标 准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817薄膜测厚仪配 置标准配置：主机、标准量块一件选 购 件：软件、通信电缆、测量头、配重砝码