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EDX-300能量色散X射线荧光光谱仪

 

主要特点

 

 

 

●用途广  欧盟RoHS指令和中国RoHS检测

 

         任意固体，液体，粉末中Na－Ｕ元素分析

 

         各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量 

 

●高  ppm的，1ppm等于百万分之一

 

●速度快  30秒～200秒

 

●成本低  无需化学处理，无需耗材,无需液氮

 

●易操作  一键式操作，无需知识，无人为误差

 

●不破坏  无需破坏产品

 

 

 

技术规格

 

仪器型号

EDX-300

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析范围

Ca(11)-U(92)任意元素

检出下限

Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

样品形状

任意大小，任何不规则形状

样品类型

塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等

X射线管

靶材

钼（Mo）靶

管电压

5─50KV

管电流

1─1000ｕA

探测器

美国AMP-TEK  Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统

高压发生器

美国SPELLMAN高压发生器

滤光片

8种滤光片自动选择并自动转换

样品观察

500万彩色摄像机

分析软件

软件产品 MS-V3.0版本，终身升级

分析方法

Alpha系数法、FP法、标准曲线法

符合规范

IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006