【2013比】销售惠州深圳东莞X射线荧光光谱仪
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EDX-900能量色散X射线荧光光谱仪

 

主要特点
分析元素范围 Na-U
分析元素的浓度范围 ppm—100%
整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● RoHS/WEEE检测时间100-120
美国原装高灵敏电制冷Si(Pin)探测器

电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
全数字脉冲处理器技术

复合滤光片智能切换技术

镀层和薄膜测量技术

优异的峰背比、极高的痕量分析灵敏度

分析不同类型样品参数自动设定,无需手动操作;
功能强大的分析管理软件,方便查询历史数据;

产品特征:

    可分析分析氯元素和油漆中的多种元素

    安全联动装置,软硬结合的辐射设计

    操作简单、一键式操作

    X射线管超温保护

    独特的异地测量功能

    具备远程诊断和自动升级功能

 技术规格

仪器型号

EDX-900能量色散X射线荧光光谱仪

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析范围

Na(11)-U(92)任意元素

检出下限

Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

样品形状

任意大小,任何不规则形状

样品类型

塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等

X射线管

靶材

钼(Mo)靶

管电压

5─50KV

管电流

1─1000uA

探测器

美国AMP-TEK X-123  Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统

高压发生器

美国SPELLMAN高压发生器

滤光片

8种滤光片自动选择并自动转换

样品观察

500万彩色摄像机

分析软件

软件产品 MS-V6.0版本,终身升级

分析方法

Alpha系数法NBS-GSC法)、FP法、标准曲线法

符合规范

IEC62321、 SNT 2003.4-2006 SNT 2003.5-2006