leeb251涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。
leeb251涂层测厚仪技术参数:
测头类型 | Leeb251 |
测头类型 | N1 |
工作原理 | 电涡流 |
测量范围 | 0~1250μm |
低限分辨率 | 1μm |
示值误差 | 一点校准 | ±(3%H+1) |
二点校准 | ±[(1~3%)H+1] |
测试条件 | 小曲率半径mm | 凸1.5、凹9 |
小面积直径mm | Φ7 |
基本临界厚度mm | 0.5 |
工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
湿度 | 20%~90% |
电源 | AAA型碱性电池1.5V四节 |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm(主机) |
重量 | 120g |
标准配置 | 主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池 |