供应日本凯特膜厚仪
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日本KETT膜厚计 产品简介

型号LZ-200J LE-200JLH-200J测定方法电磁式高频涡流式测定对象磁性金属上非磁性涂度层非磁性金属上绝缘层测定范围0~1500um 0~800um测定≤ 50um±1um > 50um ± 3% 分辨率 ≤100um 0.1um > 100um 1um 测试面积≥5x5mm统计功能测试数/值/小值/平均值/标准偏差界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制显示方式LED数显操作面板密封防水按键数据记忆3142个(仅限330C系列)信号输出RS232标准接口(仅限330C系列)附属品铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV6V 5#电池 x 4个 体积75(W) x 145(D) x 31(H)重量500g

日本KETT膜厚计 详细介绍

型号

LZ-200J

 

LE-200J

LH-200J

测定方法

电磁式

高频涡流式

测定对象

磁性金属上非磁性涂度层

非磁性金属上绝缘层

测定范围

0~1500um

0~800um

测定

≤ 50um±1um                   > 50um ± 3%

分辨率

 ≤100um       0.1um            > 100um 1um  

测试面积

≥5x5mm

统计功能

测试数/值/小值/平均值/标准偏差

界限设定

可设定上/下限数值

测试单位

公/英制

显示方式

LED数显

操作面板

密封防水按键

数据记忆

3142个(仅限330C系列)

信号输出

RS232标准接口(仅限330C系列)

附属品

铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书

电源

DV6V 5#电池 x 4个

体积

75(W) x 145(D) x 31(H)

重量

500g