型号	HZ-A	HZ-B
测试槽尺寸  （W×D×H）mm	92×285×40×2set	92×285×40×4set
外箱尺寸 （W×D×H）mm	560×560×440	820×560×440
加热时间	RT～98℃ About 60min
温度控制器	微电脑LED显示湿度控制器（解析度：0.1℃）
温度稳定度	±0.3℃
内外箱材质	SUS304不锈钢
安全装置	高温保护、缺水空焚保障
重量	About 50㎏	About 65㎏
电源	AC220V, 1PH, 50Hz  12A	AC220V, 1PH, 50Hz  15A
符合标准	GB、ISO、ASTM、UL、CEN……

蒸气老化试验箱产品简介 »　　该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制,白金电阻温度传感器（PT-100），解析度0.1℃，全自动安全保护装置。一、用途：蒸汽老化试验机用于半导体，被动元件，零件接脚氧化试验；金属接脚粘锡性试验前加速老化试验.二、特点：1.微电脑温度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED数字显示.2.白金温度感知器（PT-100）与的温度可控制解析能力0.1C.3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制.4.内箱不锈钢材质SUS#304全密封氩焊熔接域外箱SUS#316铁弗涂装.5.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置.6.可扩充预约开机时间控制装置/纯水RO逆渗透自动供水装置.三、符合标准：符合军规MTL-STP-208F，202.GB、GJB、MIL、ASTM、CNS、IEC、JIS