可測量从0nm开始的低相位差（殘留應力）。

  检测光学轴的同时，同步高速測量相位差 (Re.)。(世界速0.1秒以下的测量解析)
  偏光检测仪无任何驱动干扰，可提高再現性测量。

  无需复杂参数设定，操作简单易懂。

  550nm以外，亦可支持其它波長测量。

  Rth测量、全角度测量。(需搭配自动旋转傾斜装置)

  搭配拉力测试机可同時测量薄膜偏光特性与光弹性。(此系統为特殊規格)

 

液晶层间隙检查机 RETS series      相位差测量检测机 RETS-100

 

 

     RE-100为采用光結晶像素与CCD感測器所构成的偏光检测仪。搭配帶有穿透率性质的各式偏光元件，可以高速同時进行相位差与光学轴的测量。
     CCD感測器会自动撷取经过偏光后所呈現的画面，不需要任何的驱动轴來寻找偏光后的受光強度。不但可提高再現性的、更具备长时间使用的安定性。

 

 

■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、視野角改善膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(玻璃残留应力)

 

■ 視野角改善膜 A

■ 視野角改善膜 B

  

 

■ 自动旋转倾斜装置
偏光检测仪在生产线上的应用 (In-line Process)
■USB传输，可适用于多种环境的架设。
■超高速测量，适用于生产线中的即使监控。
■可搭配复数偏光检测仪，同时进行多点位、多角度(Rth)测量。