厂家现货打折优惠 性能稳定高低温冲击试验箱
价格:电议
地区:
电 话:86 0755 33681052
传 真:86 0755 33682663

1:主要技术参数

型号

C200-40W

试验方式

气动风门切换2温区

高温室

预热温度范围

+60+200

升温速率1

+60→+200≤20min

低温室

预冷温度范围

-750

降温速率1

+20→-70≤80min

试验室

温度偏差

±2

温度范围

-40-10)~(+60+150

温度恢复时间2

≤5min3

标称内容积

200 L

内箱尺寸

W650mm×H460mm×D670mm

外形尺寸4

W1710mm×H1800mm×D1870mm

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

10kg

重量(参考)

1440 kg

冷却水

流量

8 T/h

水压

0.250.4 MPa

水温

≤30

地漏

设备制冷机组附近要求有排水地漏

气源

(压缩空气)

压力:0.50.7 MPa;连接管口径:Φ8

    

1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25和循环水温为+25,试样是塑料封装集成电路。

3恢复条件2温区

高温曝露                低温曝露              传感器位置

(+12530分钟)         (-4030分钟)          试样的上风侧

4不包括箱顶凸出部分和脚轮高度。

 

  1. 试样限制

 

本试验设备禁止:

易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验或储存

腐蚀性物质试样的试验或储存

生物试样的试验或储存

强电磁发射源试样的试验或储存

  1. 性能

 

2.1.      测试环境条件

环境温度为+25、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下。

2.2.      测试方法

GBT5170.2-2008电工电子产品环境试验设备检验方法  温度试验设备。


2.3.      满足试验标准

GBT2423.1 2008电工电子产品环境试验2部分:试验方法试验A:低温

GBT2423.2 2008电工电子产品环境试验2部分:试验方法试验B:高温

GBT2423.22 2002电工电子产品环境试验2部分:试验方法试验N:温度变化

GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法3部分:高温试验

GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法4部分:低温试验

GJB150.5A-2009军用装备实验室环境试验方法5部分:温度冲击试验

  1. 结构特征

3.1.      保温围护结构

 

外壁材料:冷轧钢板,表面喷塑处理(AMAE标准色)

内壁材料:不锈钢板SUS304

箱体保温材料:硬质聚氨酯泡沫+玻璃纤维

门保温材料:玻璃纤维

3.2.      空气调节通道

风机、加热器、蒸发器、风门、温度传感器

3.3.      试验箱体标准配置

引线孔:Φ50mm1个(位于箱体左侧)

样品架:不锈钢样品架2

脚轮:6

3.4.      

单开铰链门(左铰链,右把手)

门框备防结露电热装置

3.5.      循环风机

离心风机

3.6.      机械室

制冷机组、接水盘、排水孔、排风机

3.7.      配电控制柜

 

总电源漏电断路器、配电、控制器、超温保护设定装置、USB接口

3.8.      加热器

 

镍铬合金电热丝式加热器

加热器控制方式:无触点等周期脉冲调宽,SSR(固态继电器)

3.9.      电源线孔及排水孔

位于箱体背面