AB-204S基础型分析天平
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梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的性能: 采用高分辨率的称量单元,满足用户高的称量需求 称量单元保护装置(CellProtector),提高产品的抗冲击、过载性能 坚固的金属机架,避免称量样品的污染,延长天平的使用寿命 可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏(Backlit LCD),方便用户读取称量结果 内置砝码校准,确保称量结果的准确性 双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求 可以拆除的防风罩设计,实现天平的快速清洁 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备 标配机架塑料保护罩(Protective cover),避免散落样品的腐蚀 具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序 梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的技术参数: 基础型分析天平AB-S系列 AB135-S AB265-S AB54-S AB104-S AB204-S AB304-S 双量程 双量程可读性 0.01/0.1mg 0.01/0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 称量值 31/120g 61/220g 51g 110g 220g 320g 重复性(s) 0.03/0.1mg 0.05/0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 线性 ±0.2mg* ±0.2mg* ±0.2mg ±0.2mg ±0.2mg ±0.2mg 秤盘尺寸(mm) Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 防风罩有效高度(mm)3737 外形尺寸(W×D×H)(mm) 245×321×344 *精细量程内10g样品典型数据:±0.03mg