香港atech 接触式硅片厚度测量仪Z-SCOPE 无锡世迈科技
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接触式硅片厚度测量仪Z-SCOPE

 

1、品名:12寸硅片厚度测试仪
2
、用途:测量硅片厚度尺寸
3
、工作原理:该仪器由传感器的侧头接触所需测量硅片表面,经测量模块传输至IBR显示器,人工读取测量值,连接电脑,电脑数据读取,可生成各种表格。
7
、技术参数
 
适合硅片:5’,6’ ,8’, 12”
 
硅片厚度:50-1000um
 
小分辨率: 0.1um
 
重复性:0.2um
 
系统:+/-0.15 um
 
测量力: 0.7g
 
收张行程: 5mm
 
大理石平板: 00
 设备尺寸:600*600*600mm