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接触式硅片厚度测量仪Z-SCOPE
1、品名:12寸硅片厚度测试仪2、用途:测量硅片厚度尺寸3、工作原理:该仪器由传感器的侧头接触所需测量硅片表面,经测量模块传输至IBR显示器,人工读取测量值,连接电脑,电脑数据读取,可生成各种表格。7、技术参数 适合硅片:5’,6’ ,8’, 12” 硅片厚度:50-1000um 小分辨率: 0.1um 重复性:0.2um 系统:+/-0.15 um 测量力: 0.7g 收张行程: 5mm 大理石平板: 00级 设备尺寸:600*600*600mm
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