Horiba纳米粒度仪SZ100
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产品品牌:
Horiba
产品型号:
SZ100
类型:
纳米粒度仪

Horiba纳米粒度仪SZ100 Horiba动态光散射粒径分布测试仪SZ100   Horiba SZ100可更高灵敏度、高地评价单一纳米粒子(粒子直径、Zeta电位、分子量测定) 完全解析纳米粒子的物质结构     主要特点: 1.       将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta电位、分子量测定)的测定囊括于一身。 2.       从PPM顺序的低浓度到百分之几十的高浓度样品,都能够在保持原状态下取样调查、测定。 3.       微小容量电泳电池:为独自研发,可以测定取样调查仅100μL的Zeta电位。 4.       适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用 5.       取样调查后,只要按测定开始按钮即可,操作简单。     Horiba SZ100粒子直径测定 超宽动态测定有效范围:0.3nm~8000nm 通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化。 在单一纳米粒子专用光学系统中,采用低角度90度光学系统。 广泛测定样品浓度范围 通过采用双重光学系统,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。     Horiba SZ100Zeta电位测定 通过安装标准的Horiba自主研发的微型样品池,可以测定仅100μL的样本。     规格:
样式 SZ-100
构成 分析部主体、PC、打印机
粒子直径计测定原理 光子相关法
粒子直径测定范围 0.3nm~8μ
粒子直径测定 ISO13321基础规格 NIST可追踪单分散聚苯乙烯 每100nm相对±2%(但不包括标准粒子自身个体)
分子量测定原理 Debye Plot法
分子量测定范围 1 x 103 ~ 2 x 107 Da
Zeta电位测定原理 电泳激光多普勒法
Zeta电位测定范围 -200~+200mV
样品电池温度调节 1.0~90.0℃
使用温度/湿度 15~35℃ 85%RH以下(不结冰)
电源 AC100V 50·60Hz 150VA
外形尺寸 527(W)x 385(D)x 273(H)mm
选项 21CFR part11软件、浸渍型样品池
    Horiba纳米粒度仪SZ100广泛应用于以下领域:   ·陶瓷粒子 ·金属纳米粒子 ·石炭 ·制药 ·病毒 ·颜料、涂料 ·化妆品 ·聚合物 ·食品 ·CMP等等