MR200粗糙度仪

 

MR200表面粗糙度测量仪  概述MR200表面粗糙度测量仪是适合于生产环境和移动测量需要的一种手持式仪器，它操作简便，功能全面，测量快捷，稳定，携带方便，能测量新国际标准的主要参数，本仪器全面严格执行了国际标准。本仪器可连接打印机和电脑。测量原理本仪器在测量工件表面粗糙度时，先将传感器搭放在工件被测表面上，然后启动仪器，由仪器内部的精密驱动机构带动传感器沿被测表面做等速直线滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度会引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏检波器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片对采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上给出，也可在打印机上输出，还可以与PC机进行通讯。主要特点1  15个测量参数：Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS) 、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr；        1  采用高电感传感器；        1  具有RC、PC-RC、GAUSS、D-P四种滤波方式；1   兼容ISO、DIN、ANSI、JIS四种标准；1   可存储15次测量结果；        1  128×64 点阵液晶，可显示全部参数、轮廓图形和中英文菜单；        1  采用DSP芯片进行控制和数据处理；        1  内置锂离子充电电池及充电保护电路；        1  机电一体化设计，体积更小；        1  连接打印机，可打印全部参数及轮廓图形；        1  内置标准RS232接口，可直接（或转换为USB接口）与PC机通讯；        1  具有自动关机及各种操作提示信息；        1  可选配测量平台附件。技术参数

 

名称	内容
测量范围	Z轴（垂直）	160μm
X轴（水平）	17.5mm
分辨率	Z轴（垂直）	0．01μm/±20μm
0．02μm/±40μm
0．04μm/±80μm
测量项目	参数	Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS) 、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr；
标准	ISO,ANSI,DIN,JIS
图形	粗糙度轮廓，支承率曲线，直接轮廓
滤波器	RC,PC-RC,Gauss,D-P
取样长度(lr)	0.25,0.8,2.5mm
评定长度（ln）	Ln=lr×n    n=1~5
传感器	测量原理	位移式差动电感
触针	天然金刚石，90锥角，5μm针尖半径
测力	<4mN
导头	红宝石，滑行方向半径40mm
滑行速度	lr=0.25,   Vt=0.135mm/s
lr=0.8,    Vt=0. 5mm/s
lr=2. 5,    Vt=1mm/s
返回      Vt=1mm/s
示值误差	不大于±10%
示值变动性	不大于6%
电源	内置锂离子充电电池，用8.4V,800mA充电器充电
外形尺寸	119×47×65mm
重量	约380g

 

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