萤光X线膜厚计COSMOS-2X涂层测厚仪
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本公司经营萤光X线膜厚计 COSMOS-2X,电镀层,金属涂层测厚仪,质量保证,欢迎咨询洽谈。 1. 采用中文窗口操作系统,操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、 铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。 4. 油浸式微小焦点X线管,50KV管电压,由上而下垂直照射方式。 5. 采用多频分析器,可快速处理能谱分析,可执行测定物之能谱分析表示,操作简单。 6. 滤波器:采用Co、Ni金属及数字式滤波器,可单一或同时使用。 7. 准直器:采用5种孔径一体式之Collimator(可设定任意切换方式)。 8. 彩色样品观察系统,附有+字刻度线,清楚显示测定位置。 9. 客户、各部品番号、批号,可登录在频道内,共有300个测量频道数。 10.采用中文窗口作业软件,设计及打印测量,插入测量位置的彩色图片、非常容易。 11.可作数据统计处理及三次元之分布图案。 12.自动诊断机能,故障排除对策迅速。附有X线管的使用时间及寿命表示机能,加强保养的安全性。 13.测定资料可保存在频道内,在统计项目设定后可做统计处理。 适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业