YX-2D6晶体定向仪是在原2型机型上，针对硅单晶设计。主要用于晶片、晶棒测量；对管套、测角仪进行改进，样品台增加承重轨道，可测2-6英寸晶片，长400晶棒，样品板面积42（宽）×70（高），主要测量角度：硅110、111、100等其他相关晶体角度。 

两边测角仪用户可根据本公司样品规格形状，选配不同的测角台，G系列测角仪（GA、GB、GC、GD、GE）。

    

技术参数

设备自验收之日起，保修一年，保修期内在正常使用的情况下，因制造质量等原因出现故障，在接到通知后3天内赶赴现场及时修理。在超过保修期一年后，设备如出现故障时，乙方终身负责修理，只收元器件费。