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图文详情
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产品属性
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型号 AX-363B 超高速/高1KHz数字电容测试仪
●配备C-E检测功能
●晶片电容编带测试适
●可选购GP-IB或RS-232C接口,外部控制
●内置打印输出(基于Centronics接口)
概述
AX-363B能够高速的测试0pF~199.9uF的电容,数字显示测试值
AX-363B有内置微处理比较器判断测试结果,在前面板显示HI, LO和GO,并输出信号。测试值前面板31/2位显示,显示值1999。
测试范围和上下限值可以在仪器的前面板通过按健设定或者通过通讯接口来设定(通讯接口可选),所设定数据掉电不丢失。
另外,本仪器配备Centronics接口,可存储上千个测试数据并在测试时输出打印:x,σ,3σ,max,min,date,time。
技术参数
测试范围,(D﹤0.5at23℃±5℃)
量 程 | 精 度 | 测试电压 |
20 pF | within± 0.2% of rdg ±3digit |
约1V |
200 pF |
within± 0.2% of rdg ±2 digit | |
2000pF | ||
20 nF | ||
200 nF | ||
2000nF | ||
20µF | 1V以内 | |
200µF | within± 0.2% of rdg ±3digit |
显示 :1999
测量方式 :5端子测试,并联等效电路
测试频率 :1kHz±0.1%,正弦波
寄生电容矫正范围:约20 pF
温度系数 :±100ppm/°C
测试时间 :外部触发→5毫秒/次,自动测试→3.125次/秒
比较范围设定 :1999→LO&HI
使用环境 :[环境温度]+0℃~+50℃ [湿度]低于85%
电源 :AC100V/117V/220V/240V可选, 50/60Hz, 大约 60VA
外形尺寸 :333(宽)x99(高)x300(长)mm(不包含外部突出物如垫脚等)
重量 :约 4.5kg
选购件
GP-IB接口或RS-232C接口
☆只可安装一种接口